« データフローテストの歴史 | Main | ソフトウェア品質モデルの歴史(1)-最初の論文 »

30 April 2012

組み合わせテストの歴史(1)

富士ゼロックスの秋山さんのHAYST法、マイクロソフトのPICTや岩通ソフトシステムの鶴巻さんのPictMasterといったツールのお蔭で、日本で直交表テストやペアワイズテストがかなり広まっていると思います。
 最近、このようなテスト技法を総称して「組み合わせテスト(Combinatorial testing)」と呼ぶことが一般的になってきています。ISTQB/JSTQBのソフトウェアテスト標準用語集ではまだこの用語は掲載されておらず、直交表テスト(Orthogonal array testing)とペアワイズテスト(Pairwise testing)が掲載されているだけなので、「組み合わせテスト(Combinatorial testing)」という呼び方は比較的新しいものだと言えます。組み合わせテスト技法はGrindalらの論文ではつぎのように定義されています。

Combination strategies are test-case selection methods where test cases are identified by combining values of the different test object input parameters based on some combinatorial strategy.
『何らかの組み合わせ手法に基づいて入力パラメタの値を組み合わせることによりテストケースを選択する技法』

M. Grindal, J. Offutt, S. Andler, "Combination Testing Strategies: A Survey", Software Testing, Verification and Reliability, Vol. 15, No. 3, pp. 167-199, 2005

今月17日~21日にカナダ・モントリオールで開催されたICST 2012 (International Conference on Software Testing, Verification and Validation)に参加したのですが、4月17日には組み合わせテストのワークショップ(Workshop on Combinatorial Testing)にも参加しました。
 ワークショップの最後の方で少しディスカッションの時間があったので飛び入りで次の資料を元に組み合わせテストの歴史を紹介し、このテスト技法が日本発のものであることを話しました。

なお、この歴史の資料は実は2008年7月に開催された「PictMaster勉強会」で発表した次の資料を元に最新化、英語化したものです。

ワークショップではMicrosoftでPICTを開発したJacek Czerwonkaさん、NISTでACTSを開発しワークショップの議長団でもあるRich Kuhnさん、Raghu Kackerさん、Yu(Jeff) Leiさん(Texas大Arlington校の准教授、IPOという組み合わせ技法を開発)らと親交を結ぶことができました。
 組み合わせテストの歴史の詳細はこのBlogで追い追い紹介していきます。

|

« データフローテストの歴史 | Main | ソフトウェア品質モデルの歴史(1)-最初の論文 »